大部分辐射测温仪表都只能丈量亮度温度、辐射温度或颜色温度等。。如欲求得被测物体的真实温度，，，，
，还必需知道该物体的发射率。。而物体的发射率又与许多因素有关，，，，
，如与物质种类、温度和波长等有关，，，，
，特殊是还与物体的外貌伏态(氧化水平、诱蚀水一律)有关。。这就给修正发射率的影响造成很大难题。。
      在辐射测温中能不可基本上消除发射率的影响?或者说能否在不确切知道发射率数值条件下用辐射测温法直接测得物体的真温度?对这个问题很早以前许多学者就注重到了。。例如，，，，
，把半球内外貌镀金的反射器扣在被测物体外貌上以提高被测外貌的有用发射率，，，，
，使设置在半球反射器上方的探测器吸收近黑体的辐射，，，，
，从而可测出物体的真温度。。